更新時(shí)間:2024-11-08
簡(jiǎn)要描述:
徠卡EM TXP精研一體機(jī)是一款*的可對(duì)目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行精確定位的表面處理工具,特別適合于SEM,TEM及LM觀察之前對(duì)樣品進(jìn)行切割、拋光等系列處理。它尤其適合于制備高難度樣品,如需要對(duì)目標(biāo)精細(xì)定位或需對(duì)肉眼難以觀察的微小目標(biāo)進(jìn)行定點(diǎn)處理。有了 Leica EM TXP,這些工作就可輕松完成。
徠卡EM TXP精研一體機(jī)
Leica EM TXP是一款*的可對(duì)目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行精確定位的表面處理工具,特別適合于SEM,TEM及LM觀察之前對(duì)樣品進(jìn)行切割、拋光等系列處理。它尤其適合于制備高難度樣品,如需要對(duì)目標(biāo)精細(xì)定位或需對(duì)肉眼難以觀察的微小目標(biāo)進(jìn)行定點(diǎn)處理。有了EM TXP,這些工作就可輕松完成。
在之前,針對(duì)目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行定點(diǎn)切割,研磨或拋光等通常是一項(xiàng)耗時(shí)耗力,很困難的工作,因?yàn)槟繕?biāo)區(qū)域極易丟失或者由于目標(biāo)尺寸太小難以處理。使用 LeicaEM TXP ,此類樣品都可被輕易處理完成。另外,借助其多功能的特點(diǎn),也是一款可為離子束研磨技術(shù)和超薄切片技術(shù)服務(wù)的*效的前制樣工具。
徠卡EM TXP精研一體機(jī)優(yōu)勢(shì)
與觀察體系合為一體
在顯微鏡下觀察整個(gè)樣品處理過(guò)程和目標(biāo)區(qū)域
將樣品固定在樣品懸臂上,在樣品處理過(guò)程中,通過(guò)立體顯微鏡可對(duì)樣品進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察,觀察角度0°至60°可調(diào),或者調(diào)至 -30°,則可通過(guò)目鏡標(biāo)尺進(jìn)行距離測(cè)量。還帶有明亮的環(huán)形LED光源照明,以便獲得*視覺(jué)觀
察效果。
對(duì)毫米和微米尺度的微小目標(biāo)進(jìn)行定位、切割、研磨、拋光是一項(xiàng)具有挑戰(zhàn)性的工作,主要困難來(lái)自:
多種方式制備處理樣品
樣品無(wú)需轉(zhuǎn)移,只需切換工具,不需要來(lái)回轉(zhuǎn)移樣品,只需要簡(jiǎn)單地更換處理樣品的工具就可完成樣品處理過(guò)程,并且樣品處理全過(guò)程都可通過(guò)顯微鏡進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察。出于安全考慮,工具和樣品所在的工作室?guī)в幸粋€(gè)透明的安全罩,可避免在樣品處理過(guò)程中操作者不小心觸碰到運(yùn)轉(zhuǎn)部件,又可防止碎屑飛濺。
可對(duì)樣品進(jìn)行如下處理:
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自動(dòng)化樣品處理過(guò)程控制
讓來(lái)工作EM TXP的自動(dòng)化樣品處理過(guò)程控制機(jī)制,可以幫助您從常規(guī)繁重的樣品制備工作中解脫出來(lái):
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精確的目標(biāo)定位
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